PHL膜厚測試儀/橢偏儀SE-101
價 格：詢價
產(chǎn) 地：更新時間：2021-01-18 16:44
品 牌：型 號：SE-101、102、110
狀 態(tài)：正常點擊量：1565
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聯(lián)系我時，請說明是在上海非利加實業(yè)有限公司上看到的，謝謝！
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膜厚測試儀
橢偏儀
應(yīng)力雙折射儀，能夠快速、***測量雙折射相位差及其空間分布和方向。廣泛應(yīng)用于玻璃、晶體、聚合物薄膜、鏡片、晶片等質(zhì)量分析和控制領(lǐng)域。
日本Photonic-lattice公司成立于1996年，以日本東北大學的光子晶體的研究技術(shù)為核心，成立的合資公司，尤其是其光子晶體制造技術(shù)世界，并由此開發(fā)出的測量儀器。
根據(jù)應(yīng)用不同，我們特別開發(fā)出5款不同的的膜厚測試儀/橢偏儀，每***款產(chǎn)品各具不同的特點。
PHL緊湊型桌面式橢偏儀 SE-101
型號 | SE-101 |
重復(fù)性 | 厚度0.1nm,折射率0.001 |
測量速度 | 0.05秒/測量點 |
光源 | 636nm 半導體激光器 |
測量點 | 1mm |
入射角 | 70度 |
測量尺寸 | 4英寸, |
儀器尺寸和重量 | 250x175x218.3mm/4kg |
數(shù)據(jù)接口 | 千兆以太網(wǎng)（攝像機信號），RS-232C |
功率 | AC100-240V（50/60Hz） |
軟件 | SE-View |
湊型桌面式橢偏儀 SE-102
型號 | SE-102 |
重復(fù)性 | 厚度0.1nm,折射率0.001 |
測量速度 | 0.05秒/測量點 |
光源 | 636nm 半導體激光器 |
測量點 | 1mm |
入射角 | 70度 |
測量尺寸 | 4英寸,1軸自動，2軸手動 |
儀器尺寸和重量 | 300x235x218.3mm/4kg |
數(shù)據(jù)接口 | 千兆以太網(wǎng)（攝像機信號），RS-232C |
功率 | AC100-240V（50/60Hz） |
軟件 | SE-View |
快速映射橢偏儀 ME-110
型號 | ME-110 |
重復(fù)性 | 厚度0.1nm,折射率0.001 |
測量速度 | 每分鐘1000個點以上 |
光源 | 636nm 半導體激光器 |
測量點 | 0.5mm |
入射角 | 70度 |
測量尺寸 | 6英寸 |
儀器尺寸和重量 | 650x650x1740mm/120kg |
數(shù)據(jù)接口 | 千兆以太網(wǎng)（攝像機信號），RS-232C |
功率 | AC100-240V（50/60Hz） |
軟件 | SE-View |
型號 | ME-110 |
重復(fù)性 | 厚度0.1nm,折射率0.001 |
測量速度 | 每分鐘1000個點以上 |
光源 | 636nm 半導體激光器 |
測量點 | 0.0055-0.5mm |
入射角 | 70度 |
測量尺寸 | 6英寸 |
儀器尺寸和重量 | 650x650x1740mm/120kg |
數(shù)據(jù)接口 | 千兆以太網(wǎng)（攝像機信號），RS-232C |
功率 | AC100-240V（50/60Hz） |
軟件 | SE-View |
允許厚度分布的測量，例如，透明電極膜和取向膜與基底玻璃的透明基板
型號 | ME-110-T |
重復(fù)性 | 厚度0.1nm,折射率0.001 |
測量速度 | 每分鐘1000個點以上 |
光源 | 636nm 半導體激光器 |
測量點 | 0.5mm |
入射角 | 70度 |
測量尺寸 | 6英寸 |
儀器尺寸和重量 | 650x650x1740mm/120kg |
數(shù)據(jù)接口 | 千兆以太網(wǎng)（攝像機信號），RS-232C |
功率 | AC100-240V（50/60Hz） |
軟件 | SE-View |
高速，高解析度的表面分布測量
滬公網(wǎng)安備31011502016460號
