ZEISS GeminiSEM 450場發(fā)射掃描電子顯微鏡
價(jià) 格:詢價(jià)
產(chǎn) 地:更新時(shí)間:2021-01-18 15:03
品 牌:型 號(hào):GeminiSEM 450
狀 態(tài):正常點(diǎn)擊量:2745
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GeminiSEM 系列產(chǎn)品
高對(duì)比度、低電壓成像的場發(fā)射掃描電子顯微鏡
為對(duì)任意樣品進(jìn)行高水準(zhǔn)的成像和分析而生
蔡司GeminiSEM 系列產(chǎn)品具有出色的探測效率,能夠輕松地實(shí)現(xiàn)亞納米分辨成像。無論是在高真空還是在可變壓力模式下,更高的表面細(xì)節(jié)信息靈敏度讓您在對(duì)任意樣品進(jìn)行成像和分析時(shí)都具備更佳的靈活性,為您在材料科學(xué)研究、生命科學(xué)研究、工業(yè)實(shí)驗(yàn)室或是顯微成像平臺(tái)中獲取各種類型樣品在微觀世界中清晰、真實(shí)的圖像,提供靈活、可靠的場發(fā)射掃描電子顯微鏡技術(shù)和方案。
GeminiSEM 450 具有出色的易用性設(shè)計(jì)、更快的響應(yīng)和更高的表面靈敏度,使其能快速、靈活、可靠地對(duì)樣品進(jìn)行表面成像和分析,充當(dāng)您的得力助手
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更高的速度與靈敏度,更好的成像和分析
GeminiSEM 450更快的響應(yīng)和更高的表面靈敏度使其能快速、靈活、可靠地對(duì)樣品進(jìn)行表面成像和分析,簡便、快速地進(jìn)行EDS能譜和EBSD等分析,同時(shí)保持出色的空間分辨率,充當(dāng)您的得力助手。
在EDS能譜和EBSD分析模式下仍保持高分辨率的成像,在低電壓條件下工作時(shí)更為優(yōu)異;
可快速地對(duì)樣品進(jìn)行大范圍及高質(zhì)量成像;
經(jīng)優(yōu)化的電子光學(xué)鏡筒,減少了工作過程中進(jìn)行重新校準(zhǔn)的復(fù)雜流程,節(jié)省成像時(shí)間,提高工作效率;
無論是不導(dǎo)電樣品、磁性樣品或是其他類型的樣品,無論是高真空或是可變壓力模式,均可實(shí)現(xiàn)快速和高質(zhì)量的成像和分析.
洞察產(chǎn)品背后的科技
Gemini電子光學(xué)系統(tǒng)
Gemini 2類型鏡筒-出色的綜合性能,為您所欲為
技術(shù)參數(shù):
基本規(guī)格 | 蔡司 GeminiSEM 450 |
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| 熱場發(fā)射電子槍,穩(wěn)定性優(yōu)于0.2 %/h
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加速電壓
| 0.02 - 30 kV |
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探針電流
| 3 pA - 40 nA |
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(100 nA或300 nA配置可選)
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存儲(chǔ)分辨率
| 達(dá)32k × 24k 像素 |
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放大倍率
| 12 C 2,000,000 |
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標(biāo)配探測器
| 鏡筒內(nèi)Inlens二次電子探測器
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樣品室內(nèi)的Everhart Thornley二次電子探測器
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可選配的 項(xiàng)目
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NanoVP可變壓力模式 |
高效VPSE探測器(包含在NanoVP可變壓力選件中)
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局部電荷中和器 鏡筒內(nèi)能量選擇背散射探測器
環(huán)形STEM探測器(aSTEM 4) 角度選擇背散射探測器 EDS能譜儀
EBSD探測器(背散射電子衍射)
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可訂制特殊功能樣品臺(tái) |
環(huán)形背散射電子探測器 |
陰極射線熒光探測器
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