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太陽能硅片厚度測(cè)量的設(shè)備 太陽能硅片厚度儀CHY-U

價(jià)  格:詢價(jià)

產(chǎn)  地:山東更新時(shí)間:2020-10-23 15:48

品  牌:SUMSPRING型  號(hào):CHY-U

狀  態(tài):正常點(diǎn)擊量:1671

400-006-7520
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上海非利加實(shí)業(yè)有限公司

聯(lián) 系 人: 上海非利加實(shí)業(yè)有限公司

電   話: 400-006-7520

傳   真: 400-006-7520

配送方式: 上海自提或三方快遞

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太陽能硅片厚度測(cè)量的設(shè)備,檢測(cè)太陽能硅片厚度用什么設(shè)備?檢測(cè)太陽能硅片厚度可以用濟(jì)南三泉中石實(shí)驗(yàn)儀器有限公司生產(chǎn)的太陽能硅片厚度儀CHY-U來檢測(cè)。CHY-U型太陽能硅片厚度儀完全滿足 GB/T 6618-2009《硅片厚度和總厚度變化測(cè)試方法》要求,配有自動(dòng)進(jìn)樣器,可完成2mm范圍內(nèi)各種薄膜、復(fù)合膜、紙張、金屬箔片等硬質(zhì)和軟質(zhì)材料厚度精確測(cè)量。在太陽能硅片的生產(chǎn)過程中能夠起到重要作用。



產(chǎn)品參數(shù)

技術(shù)參數(shù)              

測(cè)量范圍           0-2mm (其他量程可定制

分辨率             0.1um

測(cè)量速度           10次/min(可調(diào))

測(cè)量壓力           17.5±1kPa(薄膜);100±1kPa(紙張)

接觸面積           50mm2(薄膜),200mm2(紙張) 注:薄膜、紙張任選一種

進(jìn)樣步矩           0 ~ 1300 mm(可調(diào))

進(jìn)樣速度           0 ~ 120 mm/s(可調(diào))

機(jī)器尺寸           450mm×340mm×390mm (長(zhǎng)寬高)

重    量             23Kg

工作溫度             15℃-50℃

相對(duì)濕度             最高80%,無凝露

試驗(yàn)環(huán)境             無震動(dòng),無電磁干擾

工作電源             220V 50Hz 



產(chǎn)品介紹

為什么檢測(cè)太陽能硅片厚度?

在太陽能硅片生產(chǎn)過程中,硅片厚度有***定的偏差范圍,對(duì)于180μm厚度的硅片,其偏差范圍為±20μm,超過此范圍則成為不良品--薄厚片,薄厚片的存在會(huì)影響產(chǎn)品的合格率,同時(shí)會(huì)影響電池片的生產(chǎn)工藝。通過對(duì)薄厚片的類型及產(chǎn)生原因進(jìn)行分析,可以更好地減少薄厚片的產(chǎn)生,搭配CHY-U型太陽能硅片厚度儀對(duì)硅片厚度進(jìn)行測(cè)量,可提高產(chǎn)品的成品合格率。

 

太陽能硅片厚度測(cè)量的方法:

標(biāo)準(zhǔn) GB/T 6618-2009《硅片厚度和總厚度變化測(cè)試方法》中給出了硅片厚度的測(cè)量方法,并對(duì)檢測(cè)儀器的相關(guān)參數(shù)做出了規(guī)定:

1.測(cè)厚儀由帶指示儀表的探頭及支持硅片的夾具或平臺(tái)組成。

2.測(cè)厚儀應(yīng)能使硅片繞平臺(tái)中心旋轉(zhuǎn),并使每次測(cè)量定位在規(guī)定位置的2mm范圍內(nèi)。

3.儀表***小指示量值不大于1μm。

4.測(cè)量時(shí)探頭與硅片接觸面積不應(yīng)超過2mm2。

 



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